产品详情
Ux-720 精密镀层测厚仪专用X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、 达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯的VisualFp基本参数法分析软件， 可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。 精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。 镀层测厚仪产品指标： 测厚技术：X射线荧光测厚技术 测试样品种类：金属镀层，合金镀层 测量下限：0.003um 测量上限：30-50um（以材料元素判定） 测量层数：10层 测量用时：30-120秒 探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV 高压范围：0-50Kv，50W X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类； 光管靶材：Mo靶； 滤光片：专用3种自动切换； CCD观察：260万像素 微移动范围：XY15mm 输入电压：AC220V，50/60Hz 测试环境：非真空条件 数据通讯：USB2.0模式 镀层测厚仪准直器：0.5mm?1mm，?2mm，?4mm 软件方法：FlexFP-Mult 工作区：开放工作区 自定义 样品腔：330×360×100mm
产品关键词：
测厚仪
产品所属分类： 机械及行业设备/ 无损检测仪器/ 测厚仪
产品所属分类： 机械及行业设备/ 无损检测仪器/ 测厚仪
企业介绍
深圳市华唯计量技术开发有限公司是一家以XRF产品为核心的集研发、制造、销售、专业技术方案提供、实施为一体的高科技企业。
华唯技术发端于1986年，历“七·五”科技攻关计划，距今已整整22载，积“七·五”“九·五”科技攻关项目中X荧光分析
核心技术、穷原攻关组、核心成员之心力，研制开发出一系列居于国际水平的X荧光分析设备，并分别荣获科技进步三等奖、
建设部科学进步二等奖等荣誉，这也是迄今X荧光分析技术领域的荣誉。
联系方式
- 深圳市华唯计量技术开发有限公司
- 手 机 : 13751019504
- Email : hu_yanh@126.com
- 地 址 : 深圳市南山区高新园北区意中利科技园2栋
- 邮 编 : 518000
- 传众商铺 : 9633490.czvv.com
